ادامه
در صورتی که قیمت ارزی محصول را در اختیار دارید پس از عضویت و ورود به سایت می توانید فرم مربوطه را تکمیل و به همراه تصویر پرفورمای شرکت سازنده ارسال نمایید تا کارشناسان ما در اسرع وقت نسبت به محاسبه هزینه های حمل و ترخیص و صدور پیش فاکتور ریالی اقدام نمایند. هزینه استفاده از این سرویس برای هر درخواست 25 یورو می باشد. صنایع معظم در صورت تمایل به استفاده از این خدمات می توانند بدون نیاز به عضویت و پرداخت هزینه درخواست خود را به همراه کپی پرفورمای شرکت سازنده به ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com و یا فاکس 88206264 بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال نمایند.
در صورت عقد قرار داد مبلغ دریافتی به حساب خریدار عودت می شود.
ادامه
اگر مجموعه شما جزو صنایع مادر و معظم در فیلد پالایشگاه ، پتروشیمی ، حفاری ، نیروگاه ، معادن و فلزات ، خودروسازی ، تولید مواد غذایی و دارویی و.... می باشد لطفا درخواست خود را بر روی سربرگ به فاکس 88206264 و یا ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال فرمایید.
کارشناسان این مجموعه در اسرع وقت با شما تماس خواهند گرفت .
بازدیدکننده محترم، از اینکه سایت ایران اینداستری را برای منابع یابی انتخاب کرده اید، از شما سپاسگزاریم.
اطلاعاتی برای نماینده شرکت CAMECA در ایران یافت نشد.
لطفا با انتخاب هر یک از بخش های فوق، درخواست خود را ارسال فرمایید تا توسط واحد بازرگانی ایران اینداستری اکسپو بررسی شود.
-
Domain:
for the semiconductor industry
-
Domain:
laboratory
-
Other characteristics:
automated, PMT
-
Other characteristics:
high-sensitivity, PMT
-
Other characteristics:
PMT
-
Type:
secondary ion mass
-
Type:
time-of-flight mass
The CAMECA IMS 7f is a double-focusing magnetic sector SIMS with well established analytical performances: it combines extreme sensitivity, high mass resolution, high dynamic range and best detection limits on light and trace elements.
Key analytical features for solving a wide range of analytical problems...
The IMS 7f offers unparalleled depth profiling capabilities with high depth resolution and high dynamic range. A high efficiency optical gate is used to eliminate crater edge effects, and the high mass resolution ensures true elemental analysis by eliminating the numerous interfering ions (31P/30SiH, 56Fe/28Si2…). The high transmission mass spectrometer is combined with two reactive, high-density ion sources, O2+ and Cs+, thus providing high sputter rate and excellent detection limits.
Thanks to a unique stigmatic optical system, the IMS 7f performs both direct ion microscopy and scanning microprobe imaging. Besides, its electron flood gun provides a unique self-compensation mode that makes it possible to measure depth profiles on complex insulating structures.