ادامه
در صورتی که قیمت ارزی محصول را در اختیار دارید پس از عضویت و ورود به سایت می توانید فرم مربوطه را تکمیل و به همراه تصویر پرفورمای شرکت سازنده ارسال نمایید تا کارشناسان ما در اسرع وقت نسبت به محاسبه هزینه های حمل و ترخیص و صدور پیش فاکتور ریالی اقدام نمایند. هزینه استفاده از این سرویس برای هر درخواست 25 یورو می باشد. صنایع معظم در صورت تمایل به استفاده از این خدمات می توانند بدون نیاز به عضویت و پرداخت هزینه درخواست خود را به همراه کپی پرفورمای شرکت سازنده به ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com و یا فاکس 88206264 بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال نمایند.
در صورت عقد قرار داد مبلغ دریافتی به حساب خریدار عودت می شود.
ادامه
اگر مجموعه شما جزو صنایع مادر و معظم در فیلد پالایشگاه ، پتروشیمی ، حفاری ، نیروگاه ، معادن و فلزات ، خودروسازی ، تولید مواد غذایی و دارویی و.... می باشد لطفا درخواست خود را بر روی سربرگ به فاکس 88206264 و یا ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال فرمایید.
کارشناسان این مجموعه در اسرع وقت با شما تماس خواهند گرفت .
بازدیدکننده محترم، از اینکه سایت ایران اینداستری را برای منابع یابی انتخاب کرده اید، از شما سپاسگزاریم.
اطلاعاتی برای نماینده شرکت CAMECA در ایران یافت نشد.
لطفا با انتخاب هر یک از بخش های فوق، درخواست خود را ارسال فرمایید تا توسط واحد بازرگانی ایران اینداستری اکسپو بررسی شود.
-
Domain:
for the semiconductor industry
-
Type:
low-energy electron diffraction
CAMECA's new generation Shallow Probe: the metrology solution for advanced integration of new processes.
The EX-300 benefits from over a decade of experience with LEXES technology in the semiconductor industry: dozens of LEXFAB-300 Shallow Probes have been installed at the top-ten semiconductor fabrication facilities worldwide. The EX-300 is targeted for new challenging applications such as SiGe and HKMG, and it is designed to accelerate the time to market of advanced logic & memory devices while achieving high production yield.
The tool of choice for front-end process issues at 32nm node and beyond
The non-contact, non-destructive LEXES technique is a unique solution for direct measurement of the chemical composition at the surface and near surface.
The EX-300 offers a panel of complementary capabilities enlarging the domains of classical metrology to current challenging processes:
> Ultra shallow implants: Monitoring of low energy, high concentration implants.
> Strained silicon process control: Chemical composition and thickness in epitaxial layers such as B:SiGe and P:SiC, with no limitation in the layer composition.