LOADING
تداخل سنج
MFA-400â„¢
چگونه این محصول را خریداری کنم؟
درخواست قیمت
درخواست مشاوره و مدارک فنی
پرسش
خدمات خرید VIP
شما می توانید از سرویس رایگان نمایشگاه استفاده نموده و درخواست خود را مستقیما به شرکت سازنده ارسال نمایید و پس از دریافت قیمت و با ورود اطلاعات به " ماشین محاسبه قیمت ریالی " از قیمت ریالی کالا بصورت تخمینی مطلع شوید . اگر مایلید مکاتبه با شرکت سازنده ، تبادل اطلاعات و دریافت قیمت ارزی و ریالی توسط کارشناسان این مجموعه انجام شود لطفا از این طریق اقدام فرمایید. استفاده از این سرویس مستلزم پرداخت هزینه است . برای دریافت اطلاعات بیشتر با تلفن 41995 تماس حاصل فرمایید.
ادامه
ادامه
در صورتی که قیمت ارزی محصول را در اختیار دارید پس از عضویت و ورود به سایت می توانید فرم مربوطه را تکمیل و به همراه تصویر پرفورمای شرکت سازنده ارسال نمایید تا کارشناسان ما در اسرع وقت نسبت به محاسبه هزینه های حمل و ترخیص و صدور پیش فاکتور ریالی اقدام نمایند. هزینه استفاده از این سرویس برای هر درخواست 25 یورو می باشد. صنایع معظم در صورت تمایل به استفاده از این خدمات می توانند بدون نیاز به عضویت و پرداخت هزینه درخواست خود را به همراه کپی پرفورمای شرکت سازنده به ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com و یا فاکس 88206264 بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال نمایند.
در صورت عقد قرار داد مبلغ دریافتی به حساب خریدار عودت می شود.
ادامه
افزودن به لیست علاقه مندی ها
سایر سازندگان این محصول
درخواست قیمت ریالی
اگر مجموعه شما جزو صنایع مادر و معظم در فیلد پالایشگاه ، پتروشیمی ، حفاری ، نیروگاه ، معادن و فلزات ، خودروسازی ، تولید مواد غذایی و دارویی و.... می باشد لطفا درخواست خود را بر روی سربرگ به فاکس 88206264 و یا ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال فرمایید.
کارشناسان این مجموعه در اسرع وقت با شما تماس خواهند گرفت .
بازدیدکننده محترم، از اینکه سایت ایران اینداستری را برای منابع یابی انتخاب کرده اید، از شما سپاسگزاریم.
اطلاعاتی برای نماینده شرکت QED Technologies در ایران یافت نشد.
لطفا با انتخاب هر یک از بخش های فوق، درخواست خود را ارسال فرمایید تا توسط واحد بازرگانی ایران اینداستری اکسپو بررسی شود.
مشخصات فنی
Mid-spatial Frequency Metrology
Low to mid-spatial frequencies are a critical quality to account for in the production of ultrahigh precision optics, including the optics used in lithography systems. Unacceptable levels of mid-spatial frequencies will produce undesirable flaring in the final system image. Traditionally however, measuring these frequencies, particularly on an aspheric surface, has been challenging both in terms of achieving high accuracy results, but also measuring the surface quickly enough to meet the turn-around times required in a production environment.
To help meet the needs of one of our lithography customers, QED developed the MFA-400â„¢ metrology system to solve this challenging problem. The MFA-400â„¢ is capable of measuring low-to-mid spatial frequencies (0.33 to 5 cycles per mm) on steep aspheres, bridging the spatial frequency gap between figure measuring interferometry and interference microscopes.
Based on the subaperture stitching technology developed for the SSI, the MFA-400â„¢ combines an optimized interferometer with specially designed transmission spheres, integrated onto a stitching platform (based again on the SSI.) As with QED's other metrology products, the MFA-400â„¢ software fully automates the measurement process, and ensures high accuracy measurements with automatic calibration of system errors. Unique to the MFA-400â„¢, its software features the ability to generate power spectral density (PSD) maps. PSD maps can be automatically calculated and displayed using the data specified.
The MFA-400â„¢ can accommodate spherical to very steep aspheric optics up to 400mm in diameter with unprecedented low levels of uncertainty.
Low to mid-spatial frequencies are a critical quality to account for in the production of ultrahigh precision optics, including the optics used in lithography systems. Unacceptable levels of mid-spatial frequencies will produce undesirable flaring in the final system image. Traditionally however, measuring these frequencies, particularly on an aspheric surface, has been challenging both in terms of achieving high accuracy results, but also measuring the surface quickly enough to meet the turn-around times required in a production environment.
To help meet the needs of one of our lithography customers, QED developed the MFA-400â„¢ metrology system to solve this challenging problem. The MFA-400â„¢ is capable of measuring low-to-mid spatial frequencies (0.33 to 5 cycles per mm) on steep aspheres, bridging the spatial frequency gap between figure measuring interferometry and interference microscopes.
Based on the subaperture stitching technology developed for the SSI, the MFA-400â„¢ combines an optimized interferometer with specially designed transmission spheres, integrated onto a stitching platform (based again on the SSI.) As with QED's other metrology products, the MFA-400â„¢ software fully automates the measurement process, and ensures high accuracy measurements with automatic calibration of system errors. Unique to the MFA-400â„¢, its software features the ability to generate power spectral density (PSD) maps. PSD maps can be automatically calculated and displayed using the data specified.
The MFA-400â„¢ can accommodate spherical to very steep aspheric optics up to 400mm in diameter with unprecedented low levels of uncertainty.