عضویت 
ورود اعضا
راهنمای خرید
LOADING
ضخامت سنج پوشش محافظ رو میزی توسط فن آوری PULSE
MetaPULSE G
چگونه این محصول را خریداری کنم؟
درخواست قیمت
درخواست مشاوره و مدارک فنی
پرسش
خدمات خرید VIP
شما می توانید از سرویس رایگان نمایشگاه استفاده نموده و درخواست خود را مستقیما به شرکت سازنده ارسال نمایید و پس از دریافت قیمت و با ورود اطلاعات به " ماشین محاسبه قیمت ریالی " از قیمت ریالی کالا بصورت تخمینی مطلع شوید . اگر مایلید مکاتبه با شرکت سازنده ، تبادل اطلاعات و دریافت قیمت ارزی و ریالی توسط کارشناسان این مجموعه انجام شود لطفا از این طریق اقدام فرمایید. استفاده از این سرویس مستلزم پرداخت هزینه است . برای دریافت اطلاعات بیشتر با تلفن 41995 تماس حاصل فرمایید.
ادامه
ادامه
در صورتی که قیمت ارزی محصول را در اختیار دارید پس از عضویت و ورود به سایت می توانید فرم مربوطه را تکمیل و به همراه تصویر پرفورمای شرکت سازنده ارسال نمایید تا کارشناسان ما در اسرع وقت نسبت به محاسبه هزینه های حمل و ترخیص و صدور پیش فاکتور ریالی اقدام نمایند. هزینه استفاده از این سرویس برای هر درخواست 25 یورو می باشد. صنایع معظم در صورت تمایل به استفاده از این خدمات می توانند بدون نیاز به عضویت و پرداخت هزینه درخواست خود را به همراه کپی پرفورمای شرکت سازنده به ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com و یا فاکس 88206264 بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال نمایند.
در صورت عقد قرار داد مبلغ دریافتی به حساب خریدار عودت می شود.
ادامه
افزودن به لیست علاقه مندی ها
سایر سازندگان این محصول
درخواست قیمت ریالی
اگر مجموعه شما جزو صنایع مادر و معظم در فیلد پالایشگاه ، پتروشیمی ، حفاری ، نیروگاه ، معادن و فلزات ، خودروسازی ، تولید مواد غذایی و دارویی و.... می باشد لطفا درخواست خود را بر روی سربرگ به فاکس 88206264 و یا ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال فرمایید.
کارشناسان این مجموعه در اسرع وقت با شما تماس خواهند گرفت .
بازدیدکننده محترم، از اینکه سایت ایران اینداستری را برای منابع یابی انتخاب کرده اید، از شما سپاسگزاریم.
اطلاعاتی برای نماینده شرکت Rudolph Technologies در ایران یافت نشد.
لطفا با انتخاب هر یک از بخش های فوق، درخواست خود را ارسال فرمایید تا توسط واحد بازرگانی ایران اینداستری اکسپو بررسی شود.
مشخصات فنی
-
Applications:
film, coating
-
Technology:
by PULSE technology
The MetaPULSE® G offers advanced capability for metal film measurement and characterization at the 32, 28 and 22nm nodes for FEOL, BEOL and back-end WLP applications and process control.
This new metrology system is the latest addition to RudolphÂ’s MetaPULSE line -- the industry standard for thickness measurements of metal films. The MetaPULSE G delivers superior performance on all metal films, and is optimized for thin single and multilayer applications that are critical in advanced logic, memory and 3D packaging processes. Unlike optical and x-ray techniques, PULSE measures film thickness using a time-resolved acoustic signal that can be used in active die in the absence of special test pads.
Specification
Single wavelength 515nm PULSE ultra-fast laser is optimized for copper applications, delivering higher signal-to-noise ratios and superb measurement repeatability
10x10 micron spot size assures measurement capability on product wafers in 30x30 micron or smaller test sites
Measure up to 60 WPH with gauge-capable precision
Highly repeatable measurements of metal films from 50Å to 8µm
In addition to thickness, PULSE Technology can determine RMS roughness, material density, adhesion, material phase and interlayer
Automation options capable of handling 150, 200, 300 and 450mm wafers
Fabwide metal metrology with low CoO
This new metrology system is the latest addition to RudolphÂ’s MetaPULSE line -- the industry standard for thickness measurements of metal films. The MetaPULSE G delivers superior performance on all metal films, and is optimized for thin single and multilayer applications that are critical in advanced logic, memory and 3D packaging processes. Unlike optical and x-ray techniques, PULSE measures film thickness using a time-resolved acoustic signal that can be used in active die in the absence of special test pads.
Specification
Single wavelength 515nm PULSE ultra-fast laser is optimized for copper applications, delivering higher signal-to-noise ratios and superb measurement repeatability
10x10 micron spot size assures measurement capability on product wafers in 30x30 micron or smaller test sites
Measure up to 60 WPH with gauge-capable precision
Highly repeatable measurements of metal films from 50Å to 8µm
In addition to thickness, PULSE Technology can determine RMS roughness, material density, adhesion, material phase and interlayer
Automation options capable of handling 150, 200, 300 and 450mm wafers
Fabwide metal metrology with low CoO
